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3D-MCM的X射线检测分析
3D-MCM的X射线检测分析
来源 :电子与封装 | 被引量 : 0次 | 上传用户:hxjswordin123456
【摘 要】
:
X射线检测技术是一种能对不可视部位进行检测的技术.本文利用X射线对3D-MCM中的BGA焊点、基板和隔板之间的焊料凸点、叠层基板间的垂直互连和陶瓷-金属封装等进行检测;对存在
【作 者】
:
李建辉
董兆文
【机 构】
:
中国电子科技集团公司第43研究所
【出 处】
:
电子与封装
【发表日期】
:
2005年9期
【关键词】
:
X射线检测
3D-MCM
BGA
焊接
焊料凸点
X-ray Inspection 3D-MCM BGA Soldering Solder bump
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X射线检测技术是一种能对不可视部位进行检测的技术.本文利用X射线对3D-MCM中的BGA焊点、基板和隔板之间的焊料凸点、叠层基板间的垂直互连和陶瓷-金属封装等进行检测;对存在于焊点和凸点中的气孔、垂直互连中的开路和封装中的孔洞等进行了分析.
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