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利用X射线光电子能谱（XPS）对菲四甲酸二酐[3，4，9，10-perylenetetracarboxylic dianhydride（PTCDA）]／铟锡氧化物（ITO）表面和界面进行了研究．用原子力显微镜（AFM）对PTCDA／ITO样品的表面形貌进行了分析．XPS表明，在原始表面的Cls精细谱存在两个主谱峰和一个伴峰，主谱峰分别由结合能为284．6eV的茈环中的C原子和结合能为288．7eV的酸酐基团中的C原子激发；而结合能为290．4eV的伴峰的存在，说明发生了来源于ITO膜中的氧对C原子的氧化现