用平行板共振探测器测量穆斯堡尔背散射谱

来源 :山东大学学报(自然科学版) | 被引量 : 0次 | 上传用户:qazzaq123
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本文介绍了一种结构简单、使用方便的平行板共振探测器系统,它在研究薄膜样品的特性、离子注入后所产生的结构变化、固体表面性能等方面有着广泛的应用。文章报导了用这种探测器测量薄膜样品和固体表面穆斯堡尔背散射谱所得到的结果,并对结果进行了分析。 In this paper, a simple and easy to use parallel plate resonance detector system is introduced. It has a wide range of applications in the study of the characteristics of thin film samples, the structural changes after ion implantation, the surface properties of the solid. The article reports the results of the Mossbauer backscattering spectra of thin film samples and solid surfaces measured by this detector and the results were analyzed.
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