论文部分内容阅读
讨论了检测正确率小于1的情况下,按检测数据由独立的成败型元件组成的串并联系统及并串联系统可靠性的近似置信下限。利用系统诸元件的试验数据,在一、二阶矩拟合的原则下,将其折合为原系统的伪试验数和伪成功数;然后,利用单个成败型元件可靠性的经典精确置信下限作为原系统可靠性置信下限的近似值;给出了伪试验数和伪成功数的推导公式,最后给出了模拟计算实例,说明该方法可行。