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采用傅里叶变换红外光谱仪测试了性能各异的多个CdZnTe晶片的红外透过率.研究表明,红外透过率的大小可以定性反映CdZnTe晶片的性能:红外透过率越高的晶片,其成分偏离越小,位错密度越低,电阻率越高.根据红外透过率大小随着波数的变化,红外透过率图谱可以分为4种,每一种图谱对应着具有不同性能的CdZnTe晶片.从晶片对红外光的吸收机理出发,对实验结果进行了初步分析.