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基于弹性力学的圆板接触理论,分析了在抛光过程中硅片与抛光垫之间的接触压强分布与被抛光硅片的平面度误差的关系,提出了使用区域加载的方法来均等硅片抛光表面的接触压强,并进行了抛光试验,获得了平面度误差小于0.33μm的单晶硅片.这个研究为单晶硅片的集成平坦化抛光提供了一种新的方式.
单晶硅片的区域载荷法平坦化抛光
【摘 要】
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基于弹性力学的圆板接触理论,分析了在抛光过程中硅片与抛光垫之间的接触压强分布与被抛光硅片的平面度误差的关系,提出了使用区域加载的方法来均等硅片抛光表面的接触压强,
【机 构】
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沈阳工业学院,东北大学
【出 处】
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沈阳工业学院学报
【发表日期】
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2003年3期
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