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采用532nm，10ns的脉冲激光对面阵CCD进行辐照实验，对每一阶段的实验现象和电路层面的破坏机理进行了深入分析，根据实验现象，把脉冲激光对CCD的硬破坏分为3个阶段：第1阶段在低能量密度激光辐照下，被破坏的CCD局部出现无法恢复的白色盲点，但其它部分仍可正常成像；第2阶段CCD探测器受到激光辐照后，在光斑处的时钟线方向出现白色竖直亮线，亮线处无法正常成像且激光辐照撤去后无法恢复；第3阶段受高能量密度激光辐照后，CCD完全失效，无法恢复成像。针对CCD的饱和及恢复阶段，利用Matlab编码对分辨力靶板的