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介绍了电子产品快速瞬变脉冲群形成机理及相应的测试方法,综合其他研究者的成果及笔者的实践经验,针对快速瞬变脉冲群影响电子产品的不同特点提出了相应的对策方案,以方便电子产品设计人员及电磁兼容对策工程师在实际工作中参考、验证、改进和完善。
快速瞬变脉冲群测试的失败原因及对策
【摘 要】
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介绍了电子产品快速瞬变脉冲群形成机理及相应的测试方法,综合其他研究者的成果及笔者的实践经验,针对快速瞬变脉冲群影响电子产品的不同特点提出了相应的对策方案,以方便电
【机 构】
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信息产业部电子第五研究所
【出 处】
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电子产品可靠性与环境试验
【发表日期】
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2007年01期
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