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随着可编程逻辑器件（PLD）的功能日益强大，工作频率不断提高。由于片上多时钟域系统的集成，使得异步信号数量增加。由此带来了所谓的亚稳态（metdstdble）问题。亚稳态问题对器件的可靠性将造成严重影响。基于PLD器件亚稳态的成因与机理，本文提出一种简便、可靠的PLD器件亚稳态性能的测试方案。
可编程逻辑器件亚稳态的分析与测试
【摘 要】
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随着可编程逻辑器件（PLD）的功能日益强大，工作频率不断提高。由于片上多时钟域系统的集成，使得异步信号数量增加。由此带来了所谓的亚稳态（metdstdble）问题。亚稳态问题对器件的可
【机 构】
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山东大学信息科学与工程学院
【出 处】
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电子质量
【发表日期】
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2006年2期
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