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针对中国科学院微电子研究所的PDSOI 8位MCU J80C51RH设计了两套瞬态实验方法,开发了相配套的软件和硬件,并在西北核技术研究所的强光一号上进行了实验,成功地获得了所需要的数据,该MCU在剂量率为1E11 rad(Si)/s的瞬态辐照环境下工作正常。同时也证明了两套测试系统的可靠性。