显象管打火损坏半导体器件分析

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本文重点定量地分析了显象管打火造成的瞬时大电流和高电压,因引线电感存在而产生的高电压是造成晶体管损坏的根源。文中还简要地进行了实例分析并提出了一些防护措施。 This paper focuses on quantitative analysis of kinescope sparking instantaneous high current and high voltage, due to the existence of lead inductance high voltage is the root cause of transistor damage. The article also briefly conducted an example analysis and put forward some protective measures.
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