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针对反熔丝FPGA电路，在“强光一号”加速器上进行了瞬时电离辐射试验，发现γ射线瞬时电离辐射会导致FPGA内部寄存器清零，使FPGA运行状态被初始化。为了解决该问题，设计了一种“FPGA＋FRAM（铁电存储器）＋特殊时序读写软件”的加固电路，通过γ射线瞬时电离辐射试验证明：该加固电路实现了瞬时电离辐射状态下FPGA内部重要数据的实时保存与恢复，成功规避了FPGA电路的瞬时电离辐射效应。