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为了减少内建自测试方案中的测试数据，基于输入精简技术（横向压缩）和TRC测试集嵌入技术（竖向压缩）的二维测试数据压缩的BIST方案，采用改进的输入精简算法和基于相容性判断的TRC种子选择算法，同时对横向和纵向压缩进行优化，包括在相同的相容百分数（PC）的条件下，确定位百分数（PSB）对竖向压缩的影响和在相同的PSB条件下竖向压缩算法中的PC对竖向压缩的影响两个方面．针对ISCAS89实验电路的实验结果表明，每一个PSB值都有一个最优的PC值范围EPClow-limit，PC high-limit使存储位数