基于计算机模拟的正常晶粒长大的三维特征和二维截面表征

来源 :材料研究学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lzd_1983
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用适当的三维MonteCarlo技术模拟了较完整的单相材料正常晶粒长大过程,获得了晶粒长大动力学和拓扑学的全面信息,对正常晶粒长大的三维特征和相应的二维截面有征进行对应分析表明:二维截面上测定的时间指数,具有三维系统一致随时间向稳态晶粒长的大理论值(n=0.5)趋近的特征,由二维截面单位面积上的晶粒人与时间的定量关系可以推断三维系统晶粒长大是否达到准确稳态,二维截面上的晶粒尺寸分布不能代表真实的三
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