Y掺杂BST薄膜介电性能研究

来源 :稀有金属材料与工程 | 被引量 : 0次 | 上传用户:qaz1164
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用改进溶胶-凝胶法在Pt/Ti/SiO2/Si上制备了钇(Y)掺杂Ba0.6Sr0.4TiO3(BST)薄膜,研究了Y掺杂对BST薄膜表面结构和介电性能的影响。XPS结果表明,Y掺杂有利于薄膜钙钛矿结构的形成,但对氧空位没有明显的抑制作用。SEM和AFM结果表明,Y掺杂能缓解薄膜应力、减少薄膜裂纹、细化晶粒,进而改善薄膜的表面结构。在进行Y掺杂后,薄膜的介电性能得到明显提高,40V外加电压下的介电调谐率大于40%及零偏压下介电损耗为0.0210,优化因子大于20。
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