电子探针法测定超细铜粉中氧含量

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超细铜粉的氧化程度决定其产品性能和应用,快速、准确测定超细铜粉中O含量具有重要实际意义.实验利用自制铝质模具进行粉末压片制样,选择粒径小于10 μm的CuO、Cu2 O和Cu粉末分别代表O含量高、中、低的超细铜粉,采用电子探针(EPMA)法对超细铜粉中的O进行定量分析.在加速电压为15 kV下,考察了O和Cu元素定量分析的束流线性范围,讨论了Cu元素分析线、束流和束斑大小对O元素定量分析的影响.结果 表明,Cu Kα线定量优于Lα线,束流线性范围为5~100 nA,束斑以50 um为佳.在优化的测量条件下,对铜粉中高、中、低含量O测量的相对标准偏差(RSD,n=9)均不大于3.0%;O元素的检出限为0.042%;Cu2O标准样品中O含量的相对误差为 4.11%;与氢损法测定值相比较,CuO和Cu粉末样品中O含量检测结果的相对误差分别为-5.95%和-7.04%.
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