论文部分内容阅读
制备了离子液体（1-乙基-3-甲基咪唑六氟磷酸【EMIM][PF。】）负载量不同的多孔纳米氧化硅（SiOx），并采用差式扫描量热分析（DSC）、X射线衍射（XRD）、激光Raman光谱、傅里叶变换红外（FTIR）光谱分析等手段研究离子液体负载纳米氧化硅后的熔点变化及相行为．研究表明负载于纳米氧化硅表面的离子液体熔点明显下降，且负载于不同表面羟基含量的氧化硅表面熔点下降幅度不同．纯离子液体[EMIM][PFe】熔点为62℃，在纳米氧化硅表面负载量为35％时熔点为52。C，比负载前下降10℃：负载于另两种不同