论文部分内容阅读
主要论述一个用于多层不均匀厚靶μＰＩＸＥ分析谱的模拟的计算机软件。该软件用Ｃ语言编写而成、有较好的用户界面窗口、操作方便。该软件可对样品根据其层数和所包含的包裹的数目及形状进行定义，可完成二维和线扫描的Ｘ射线强度分布的计算。给出了对铜网格的模拟计算及与实验结果比较，并给出了对一简单包裹体的模拟结果。该软件还可用于厚靶微米ＰＩＸＥ的定量分析。