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针对故障诊断中测试冗余、测试资源分配不合理的问题，首先用解析冗余关系（ARRs）优选出测试点；分析了影响测试资源选择的因素，用层次分析法（AHP）建立了评价指标集的递阶层次结构，确定了各指标的综合权重，最后用模糊综合决策方法实现了测试点的BITE与ATE分层优化，对提高电子装备的诊断能力、降低测试费用具有指导意义。