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在X射线荧光分析中,有效背景的选择是经常碰到的难题之一。有关背景的性质、测量以及如何降低背景的问题,国内外的有关专著已有详细论述。但对有效背景的选择与元素含量的关系,则很少作定量的分析。本文针对这一问题进行了初步的研讨,以测定Cu/SiO_2型新催化剂中的Cu为例,选择的CuKa特征峰,讨论Cu含量变化与背景选择的关系。实验证明,当用Cu含量为0.5％的背景位测量Cu含量为0.5～8％范围内的背景值时,0.5％与8％Cu含量的两背景强度的绝对误差,相当于0.2％的Cu含量;当用8％的背景位测量Cu含