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Sol—gel生长KTa1—xNbxO3电光薄膜的成分和结构
Sol—gel生长KTa1—xNbxO3电光薄膜的成分和结构
来源 :材料研究学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:waterdrop505
【摘 要】
:
采用XPS方法研究了sol-gel工艺制备的KTN(x=0.35)薄膜的成分和结构,结果表明,除了表面被碳污染外,薄膜中无残余的碳和其他杂质,其成分与原料的化学计量比相近,且沿深度均匀分布,各元素的化学状态证实薄膜
【作 者】
:
卢朝靖
王世敏
邝安祥
黄桂玉
王龙海
王典芬
【机 构】
:
湖北大学,武汉工业大学,南京大学物理系
【出 处】
:
材料研究学报
【发表日期】
:
1995年2期
【关键词】
:
钽铌酸钾
薄膜
X射线
光电子能谱
溶胶-凝胶法
chemical composition
valence state. XPS
sol-gel
KTN
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采用XPS方法研究了sol-gel工艺制备的KTN(x=0.35)薄膜的成分和结构,结果表明,除了表面被碳污染外,薄膜中无残余的碳和其他杂质,其成分与原料的化学计量比相近,且沿深度均匀分布,各元素的化学状态证实薄膜系钙钛矿型KTN结构。
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