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提出了一种有效的新型测试数据压缩编码——PTIDR编码。该编码方法综合利用哈夫曼编码和前缀编码。理论分析和实验结果表明，在测试集中，0的概率P满足P≥0．7610时，能取得比FDR编码更高的压缩率，从而降低芯片测试成本。该编码方法的解码器也较FDR编码的解码器简单、易实现，且能有效节省硬件开销，并进一步节省芯片面积，从而降低芯片制造成本。