论文部分内容阅读
20世纪80年代初期，随着微电子技术的发展，国外报道了利用存储器芯片作为信息载体的数字存储测试仪。20世纪90年代，传感器与微型电子记录仪组为一体的存储测试产品在国际上出现。存储测试技术是从七十年代开始的一种新的弹上参数的测试方法，它是在不影响被测对象或影响在允许范围的条件下，在被测体内置入微型数据采集与存储测试仪，现场实时完成信息的快速采集与记忆，事后回收记录仪，由计算机处理和再现测试信息的一种动态测试技术。