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该文介绍了采用玻璃熔片法，建立了测定硅微粉中的 SiO2、ZrO2、Al2 O3、Fe2 O3等的 X射线荧光光谱分析方法。以锆英石标准样品和具有代表性的硅微粉样品作为标准样品绘制标准曲线，解决了没有硅微粉标准样品的问题，并对熔剂选择、熔融条件和测量条件等进行了探讨。该方法用于硅微粉中主、次成分的测定，结果与化学分析和ICP-AES法进行比对，结果表明，该方法可满足硅微粉生产与科研中的分析要求。