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<正>斯伦贝谢公司推出新的随钻电阻率成像测井系统MicroScope LWD。该系统可提供导电泥浆环境下全井周的高分辨率电成像和微电阻率测量;可提供更优的地层评价效果,如薄层识别和侵入剖面分析等。MicroScope LWD仪器外径为4in,适用于井径5~6in的井筒,可提供多种探测深度范围的方位聚焦侧向电阻率测量以及