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随着半导体技术的发展,计算机芯片的价格越来越便宜,功能越来越强。为研制智能式测量仪器提供了物质基础。但另一方面,许多物理量之间的精确关系一时还不能完全确定,使计算机的应用遇到了困难。本文提供了一种分段拟合实验数据,形成系数矩阵,求得一条连续的拟合折线,并使其误差的平方和为最小的折线拟合算法。这一算法为研制经验式智能测量仪器或经验式智能控制器找到了一个更为一般化的方法。