随着我国电子技术的高速发展,需要各种类型的电子元器件,这些器件质量的好坏会直接影响着产品的性能。晶体二极管是电子技术中最常用的元件,它的核心就是PN结,它的电学参数都可能对电子产品性能产生较大的影响,尤其是二极管的反向漏电流是一个非常重要的参数。参数选择不当可能导致电子产品不能正常工作甚至造成严重的安全事故,如烧坏、爆炸等。本文首先分析了半导体材料的基本特性,重点讨论二极管内部的结构、伏安特性和电容特性,并且详细讨论了二极管在不同温度下,在不同的正、反向偏压下,PN结的反向饱和电流的情况。并在此基础上,采用桥式输入电路、单片机AT89S51、ICL7650组成的精密程控放大电路和ADC0804模数转换,完成了一款二极管反向漏电流测试仪,实现了对微弱信号进行采集、放大、模数转换和显示等功能,Keil C51软件提供丰富的库函数和功能强大的集成开发调试工具及全Windows界面,通过编程软件达到修正和提高测试精度的目的。利用该测试仪将IN4001作为被测二极管进行验证,结果表明:(1)二极管的特性受温度影响较大,温度增加时,它的反向电流呈指数规律变大,硅基二极管器件温度每增加8度,反向电流的增幅将明显;(2)温度增加时,它的正向压降将变小,温度每增加1度,正向压降将减少1.85mv,说明二极管元件具有负温度系数。在不同温度和正、反向电压的作用下,该测试仪能正常工作,所得反向电流分辨率达到0.1nA,误差率达到了1.79%,较好地完成了设计任务。