随着电子技术的飞速发展，电路板测试技术也出现了重大变革，一项新的电路板PCB板上的IC之间的互连测试技术在20世纪末诞生并且得到了迅速广泛的应用。这项测试技术就是IEE1149.1标准，又称JTAG规范规定的边界扫描测试技术，JTAG规范不仅推动了可测性设计的发展，大大降低了电路板测试的成本和时间，而且为芯片内部寄存器提供了一种方便有效的“下载”和“读取”方式。 JTAG即IEEE1149.1标准，只需5根引脚就可以实现数据的传输功能，它不但能测试各种集成电路芯片，也能测试芯片内各类宏单元，还能测试相应的印刷板电路。 本文详细的对JTAG进行了分析和研究。首先介绍了可测性发展和边界扫描技术，以及JTAG与IEE1149.1标准。接着对JTAG原理和结构进行了详细的说明，对JTAG中TAP控制器的状态机进行了分析，又详细说明了JTAG寄存器及指令。最后对JTAG中TAP控制器进行RTL级建模和仿真，并对JTAG指令做了分析。 本文的特点是紧扣IEEE1149.1标准，创新之处在于对JTAG中TAP控制器进行RTL级建模和仿真以及对JTAG指令所做的分析。