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半导体工艺技术迅速发展加速了集成电路进入纳米/超深亚微米时代,系统芯片SoC（System-on-Chip）大量涌现,导致电路规模、集成度和复杂度迅速增加。集成电路设计、测试和验证面临空前的技术挑战和棘手问题,测试数据量过大、测试功耗过高、测试时间过长等成为测试领域当前关注的研究热点。过大的测试存储需求导致测试成本居高不下,过高的测试功耗可能引起待测电路产生过大的电流或电压,导致系统瞬间损坏、可靠性降低和无法避免的产量损失,严重影响集成电路的生产和制造,进而延缓自主知识产权的芯片研发进程。本文研究工作围绕SoC测试生成、数据压缩和低功耗测试技术展开,具体工作内容如下:（1）本文分析了片上系统测试压缩和低功耗测试技术的研究背景及其国内外研究现状,概述了片上系统测试原理、测试向量生成技术和测试数据压缩方法;介绍了片上系统内建式测试和外建式低功耗测试技术。（2）LFSR（Linear feedback shift register）重播种技术能够取得很好的测试压缩效果,但测试集中无关位的随机填充导致LFSR重播种扫描测试过程产生过多的开关切换活动,从而引发较高的测试功耗。因此,本章提出基于测试数据分块的低功耗LFSR重播种测试压缩方法。通过测试数据的分块编码处理,并对那些标志位兼容的测试向量进行重排序和分组,同时减少测试向量中的确定位并降低测试功耗。大量国际标准电路实验结果表明:该方法在压缩测试数据（平均压缩率高达92.9%）和降低测试功耗（平均功耗总体降低至72.4%）两方面取得了较好效果,且硬件开销在可接受范围内。（3）由于ATPG工具产生的不同测试向量中的确定位数目具有很大差异,而LFSR尺寸取决于确定位数目最长的测试向量,导致过长的种子向量,进而增加了测试存储需求。因此,本章提出基于向量奇偶切分的低功耗双LFSR重播种压缩方法。针对确定位数目较多的测试向量进行奇偶切分处理,从而将确定位的数目分摊在切分后奇/偶测试向量中,构造新测试集,有效减少了测试向量中Smax,由此提高了测试压缩比。采用双LFSR重播种方法对新测试集进行数据压缩,进一步降低测试测试功耗。大量国际标准电路实验结果表明:该方法在取得较高测试压缩效果的基础上,有效降低了片上系统测试功耗。