在竞争日益激烈的电子行业中,如何适应快速变化的市场环境,缩短产品研发周期,提高产品质量是国内电子企业所面临的普遍问题。在研发缺陷管理方面,很多企业还停留在以OFFICE软件为载体的半手工化管理阶段,很难对缺陷进行有效的控制和管理,从而缺陷管理成为了研发质量进一步提高的瓶颈。本课题的研究是为了提高电子产品研发缺陷管理水平,加强产品研发过程中所产生的缺陷信息的采集过程的实时性、规范性和准确性,实现缺陷的动态跟踪和处理。同时,便于研发部门管理人员对缺陷相关信息进行进一步分析统计处理。本课题首先在充分调研的情况下,深入分析和研究了国内电子企业的研发缺陷管理现状,指出了所存在的主要问题和瓶颈。其次,本课题针对这些问题,结合工作流技术关键要素优化和重构了其核心的缺陷跟踪流程,站在流程管理角度,设计了一整套较完整的缺陷管理信息化解决方案,将缺陷信息以合理的结构组织和管理起来,并结合研发过程的进行,实现缺陷的上报、修复、验证的跟踪管理,规范产品研发缺陷信息的采集和流程的流转。再次,本课题运用普元EOS平台及其工作流引擎采用面向构件的开发方式设计并开发了针对我国电子产品研发缺陷跟踪管理的工作流信息系统,并已先后在广州、浙江、深圳某电子企业进行试用。