光栅莫尔条纹细分技术在的精密测量领域中应用十分广泛,其中幅值分割电子细分技术以其电路简单,成本低等优点成为了较为常用的细分技术。然而,在幅值分割电子细分技术过程中需要解决莫尔条纹信号非线性的问题。较莫尔条纹直接细分,传统的正切法虽在一定程度上减小了非线性误差,但仍不能达到更精密测量的要求。针对这一问题,本文采用了A/D采样重构法来减少非线性误差,以便实现最终精密测量的目的。首先在本文中,借用MATLAB软件分析了传统正切法与新方法的非线性误差,得出本文采用的A/D采样重构方法对减少非线性误差具有一定的优势。然后将本方法应用于实践,进行莫尔条纹的精密测量系统的设计。根据光栅输出莫尔条纹的实际情况,进行了系统的总体设计。通过设计了前端处理电路,滤除原始信号的噪声和干扰。同时,为实现系统在高速测量的条件下完成精密测量,在信号细分方案设计上,采用粗细分、精细分并行处理的方式。另外,在软件设计方面,优化了细分算法,减少处理器处理时间,使系统总体性能得到进一步提高。最后,通过激光干涉仪对本系统进行检验校准,并运用极差法对实验数据进行重复性误差分析。同时,在系统示值误差、分辨力等几个方面对系统进一步误差分析,最终确定本细分系统为合格的精密测量系统。