集成电路(IC)特征尺寸进入纳米尺度以来,芯片上晶体管数目达到十亿数量级,芯片的工作频率达到几千兆赫兹。这给集成电路测试带来巨大的挑战:测试数据量越来越大。过大的测试数据量不仅提高了对测试仪存储和带宽的要求,而且增加了测试时间和测试功耗。测试压缩等测试优化方法可以减少测试数据量、降低测试功耗并缩短测试时间。目前,测试压缩已成为IC测试领域的研究热点。本文着眼于测试数据压缩方面,提出一种基于Hadamard变换的编码压缩方法,并通过KM算法增强测试集主成分进一步优化了该方法。在ISCAS’89基准电路上的实验表明,该方法在提高测试数据压缩率方面取得明显效果。本文创新性的主要工作有:1、提出了一种基于Hadamard变换的编码压缩方法。该方法通过对测试集进行变换分析,求出测试集的主成分,然后通过异或运算把测试集“拆分”为主成分和测试集残差两部分,主成分可在芯片内部由简单的硬件生成,因此只需将测试集残差存储到测试仪上。这样就将对测试集的压缩转变为对测试集残差的压缩。由于测试集残差中1的个数较少,FDR编码非常有效。在ISCAS’89基准电路上的实验表明,测试数据FDR编码的平均压缩率提高到75.41%,提高了 18.19%。2、提出一种增强测试集主成分的方法。该方法根据测试集和其主成分矩阵构建二分图模型和权值矩阵,把增强测试集主成分的问题转化为二分图的最佳匹配问题,然后用KM算法求解。根据匹配关系调整测试集中测试向量的顺序后,主成分和测试集的相关性增加,主成分得到增强。在ISCAS’89基准电路上的实验表明,测试集的主成分增强了 13.42%,测试集残差中的1个数减少20.54%,测试数据FDR编码的平均压缩率提高到78.52%,提高了 3.11%。