随着VLS工技术的发展,特别是高速存储器芯片、ASIC芯片以及可编程芯片等器件的广泛采用,计算机等电子系统的功能得到了极大的增强。但另一方面,对电子系统进行测试的难度也相应增加,传统的外部功能测试方法已越来越难以满足测试的需求。 为解决这一难题,IC界出现了可测试性设计的概念和技术。所谓可测试性设计,就是在系统设计的初期就考虑到可测试性要求,通过调整系统结构并增加相应的可测试性机制,提高系统的可控制性和可观测性,方便测试的进行。 本论文从学习基本的IC测试概念开始,对IC测试技术中关心的一些重点问题进行了分析和比较。接着本文就同步数字逻辑电路的抽象模型及其可测性设计做了详细的论述。在随后的第五章里,本文结合实际的设计任务,对基于扫描测试的可测性设计的原理、规则进行了阐述。在本文的最后部分,使用EDA工具,对一个嵌入式单片机核进行了实际的可测性设计,并对设计结果进行了检查、分析。