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本文对芯片仿真波形的自动比较和工艺偏差下模拟电路的自动优化两方面进行了研究。
芯片仿真波形的自动比较方面，采用一种基于矩形容限窗口的点到点波形比较方法。该方法既考虑信号误差，又考虑时间误差，避免除法、开方等复杂运算，精度高、速度快。闪存芯片仿真波形实例验证了该方法的正确性。
工艺偏差下模拟电路的自动优化方面，将椭球算法与仿射算术相结合，提出了一种求解带参数几何规划的新方法。椭球算法可解无参数几何规划问题，仿射算术可有效估计参数变化范围，两者结合可用于工艺偏差下模拟电路的自动优化。一个CMOS两级运放的例子和对应的HSPICE仿真结果验证了该方法的正确性。