X射线数字化成像技术在电子工业上有着重要应用。本文的目的是研发出一种应用于电子工业实时检测的成本低、分辨率高的X射线数字化成像技术与系统，以满足国内广大电子工业厂家急切的需求。首先介绍了课题研究的意义、要求及其研究背景。总结了X射线的产生机理，分析了X射线与物质的相互作用，介绍了各类X射线像增强器的工作原理，并对X射线数字化成像所采用的方法进行了研究。针对课题要求，对基于MCP-X射线像增强器的成像检测系统进行了研究。对其系统构成、成像原理进行了分析，对系统各个主要部件参数的选择进行了相关探索。推导了该成像系统的数学模型，对系统的理论分辨率进行了推算并与实测分辨率进行对比。针对基于MCP-X射线像增强器的成像检测系统所成图像噪声大，不均匀性严重，动态范围小的缺点，对射线图像处理算法进行了相应研究。通过多帧叠加消除射线图像中的随机噪声。对射线图像的不均匀性进行了校正。针对X射线像增强器所成图像动态范围小的缺点，提出一种基于多分辨率图像融合的动态范围扩展方法。通过小波变换将两幅不同管电压条件下采集的X射线图像融合为一幅图像以扩展单幅X射线图像的动态范围。实验证明，本文开发的基于MCP-X射线像增强器的成像检测系统能够满足电子工业产品检测方面的应用，达到了课题的要求。