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目前限制直流GIL大规模发展的一个主要原因是绝缘子表面电荷积聚严重,畸变电场从而降低了绝缘子的沿面闪络电压。而温度分布对电荷积聚影响较大,且目前的测量研究还未获得整个绝缘子表面的温度分布。为了更准确掌握表面电荷的积聚特性,有必要实现对绝缘子温度的分布式测量。现有的温度传感器只能进行单点测量、系统布线复杂,且抗电磁干扰能力差,难以获得绝缘子表面的温度分布。为了解决这一问题,本文基于光频域反射技术(Optical Frequency Domain Reflectometry,OFDR),提出一种新型分布式光纤温度传感技术,可以简单可靠地实现绝缘子表面温度分布式测量。首先,分析了光频域反射的信号模型,系统采用相干外差探测技术实现对测量信号的采集,通过观测拍频信号的频谱图可以实现测量点的精准定位。通过分析光源的非线性扫频效应,提出了解决光源非线性扫频效应的方法。通过对光纤中的偏振衰落效应进行分析,最后选取用偏振分集接收装置采集信号以抑制偏振衰落。以此为基础,搭建了 OFDR分布式测量系统,通过实验验证提出的光源非线性补偿方法的有效性。此外,根据OFDR分布式测量原理,从理论上给出了该系统实现温度分布式测量的方法。其次,对全光栅光纤(All Grating Fiber,AGF)与普通单模光纤两种不同的～光纤分别设计了不同了实验平台,通过相应的信号处理方法分别实现了对外界温度的分布式测量。通过试验验证AGF可实现11.2m的测量距离,空间分辨率达到1cm,此种光纤的温度灵敏系数为10.16pm/℃;使用单模光纤作为传感光纤时,利用光纤中的瑞利散射信号实现了测量长度为50m时空间分辨率为3cm的分布式温度传感,获得了单模光纤的温度灵敏系数为10.5 pm/℃。最后,通过对比两种传感光纤的测试性能,选择以AGF为传感光纤在实验室搭建了 126 kV GIS绝缘子表面温度分布式测量的试验平台,将全光栅光纤布置于绝缘子上,获得了 212个测点的温度变化,并且利用OFDR系统获得温度变化和传统电子温度传感器测得的温度一致,平均温度偏差仅为1.4℃,实现了空间分辨率为1cm的温度分布式测量。实验中获得了升温过程中不同时刻绝缘子表面的温度分布,为研究空间电荷的积聚效应提供参考。