统计过程控制(SPC)是质量管理的核心内容之一,它主要采用控制图来对过程是否处于统计控制状态进行判断和监控。对大批量生产过程中符合正态分布的质量特性值应用SPC技术进行统计分析和监控,在技术上已发展较为成熟并在制造业获得了广泛应用。但在其它生产模式以及质量特性不服从正态分布条件下,SPC技术的应用还很不成熟。本论文主要针对特定条件下SPC技术的应用进行探讨,全文主要内容如下:首先,详细介绍了Q控制图和面向质量目标的统计公差技术,并在此基础上将两者相结合,提出了面向质量目标的Q控制图。然后,针对位置度、同轴度误差的SPC监控,建立了基于瑞利分布的单值控制图,并与休哈特控制图、EWMA控制图分别作了对比分析;介绍了两种针对有偏分布的控制图——加权标准差的均值-极差控制图和偏度校正的均值-极差控制图方法,并做了简单对比分析。最后,通过在VB中以ActiveX组件方式调用MATLAB对象的属性和方法,实现面向质量目标的Q控制图、基于瑞利分布的单值控制图和偏度校正的均值-极差控制图中复杂的数据统计和图表的的绘制功能。