光在光纤中是以全反射的方式传播的。在发生全反射时，光在光密介质和光疏介质交界面并不是绝对的反射，光波会透入光疏介质波长量级的深度并传播一段距离后再返回光密介质，这种光波称为消逝波。因此，当光在光纤中传播时，在光纤芯层和包层的交界面处会形成消逝场。如果改变存在消逝场处光纤包层的折射率，在此传播的光将不能完全返回光密介质，会有一部分光从光纤中泄漏。通过测量光纤出射端口的光能量，可以了解光泄漏的情况，进而反推引起泄漏的包层折射率变化情况。D型光纤传感器利用这个原理，通过部分切除光纤包层来产生光泄漏，进而到达传感的目的。为了解D型光纤的传输性能，使用数值模拟的方法分析入射光源，光纤D型面切除深度、切除长度，外界环境折射率等因素对传输光的影响。在开展消逝场传感实验前，数值模拟的结果为实验参数的选择提供参考，对实验结果进行预测。本文利用FDTD方法对D型光纤进行模拟，分析光在D型光纤中传播的情况以及光的泄漏情况。首先，使用FDTD专业计算软件EASTFDTD对D型光纤结构进行模拟计算，从计算结果中观察到全反射中的消逝场现象以及光泄漏的现象。然后，对光在D型光纤中的泄漏情况进行定量分析，分析了不同D形面上填覆折射率、包层切除深度等因素对光泄漏的影响。由于需要在三维空间中进行模拟计算，计算时间往往较长，为了提高计算速度，本文对并行FDTD方法进行了研究。首先，为了验证并行计算结果的正确性，先给出了串行计算的结果。接着，利用OpenMp，MPI，windowsAPI,CUDA一共四种不同的方法进行了并行FDTD计算，结果与串行结果相符。最后，对比了并行方法和串行方法的计算速度。