论文对铑的化合物和铱的化合物中主成分铑或铱,及其共存杂质的分析体系进行了系统、细致、翔实的研究,旨在建立对主成分铑和铱以及其他微量共存杂质离子进行直接测定的分析方法.作者首先对近二十年来运用于铑的化合物、铱的化合物分析体系进行了全面的文献调研.通过充分的文献调研,作者发现相关的分析领域主要存在如下三个不足:[1]铑的化合物和铱的化合物高含量分析研究很少.[2]相关样品分析报道较多,但全面的多离子共存分析体系研究几乎没有,尤其是体系内不同含量的各成分之间干扰情况没有系统研究报告.[3]贵金属铑的化合物和铱化合物中铑或铱作为常量主成分时部分常见微量杂质离子的检测没有报道,如Cd、Na、K、Ca、Ba、Ru、Sb等.针对这些不足,作者提出了以ICP-AES法为主,FAAS为辅助对照手段的分析方法对铑铱化合物中常量主成分铑或铱及其共存杂质进行直接分析的研究方案.随后作者对ICP-AES系统的最新进展做了深入的文献调研,对近二十年来该领域中的研究热—ICP-AES中的基体效应,作者进行了一定程度的总结和分析,作者对文献中基体效应的研究成果比较关注,引入了ICP稳健度系数的概念和相关讨论,作者采纳了比较通用的判别标准:运用Mg的离子原子谱线强度比(MgⅡ280.270/MgⅠ285.213)是否大于8作为直接依据来判断ICP中的基体效应是否显著,并将该判据应用到论文的每一步条件实验中.