随着现代集成电路制造工艺和设计技术的不断发展,集成电路的测试受到严峻的挑战。作为集成电路测试中的一个重要测试方面,延迟故障的测试变得更为关键。传统的延迟测试通常需要一个比时钟周期慢或者与时钟周期同步的测试时钟,在该测试时钟下,通过输入随机或者固定的一个测试矢量对,来检测该电路是否符合设计规范。　　为了有效地降低延迟故障测试中的测试复杂度和测试时间,本文提出了一种基于路径延迟惯量的路径延迟测试方法。对于某条特定路径或者最长路径,存在一个使路径导通的临界宽度脉冲,只需要对被测路径的原始输出端进行检测,在规定的时间内不能检测到脉冲,可以判定该路径存在着延迟故障。我们发现其临界脉冲宽度与该路径的延迟时间是单调变化的关系。实际的芯片生产过程中,器件参数的变化都可能导致延迟故障的产生,因此在本方法的研究过程中,利用仿真工具来模拟芯片的延迟故障,仿真结果表明本方法具有很高的可检测概率。最后,本文提出了基于本测试方法的BIST电路设计,可以通过自动或者手动的方式产生一个被测路径所需要的宽度的脉冲,以此达到检测延迟故障的目的,实现本测试方案。