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光学薄膜吸收的存在，是限制高能激光发展的主要因素之一。它的存在，不仅影响薄膜的光学质量，更会造成激光在薄膜内的热沉积。特别是在高功率激光作用下，即使十分微弱的吸收也足以导致薄膜元件的灾难性破坏。因此，有必要对光学薄膜的这种平均吸收及局部吸收进行精确、快速、实时的检测。 目前，广泛使用的测量弱吸收的方法有光热偏转技术和表面热透镜技术。研究的激光波段主要集中在紫外、可见光和近红外波段。而对中远红外波段的研究较少。而且，随着高功率CO_2激光器应用的日益广泛，特别是国内外有关C