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随着先进制造技术的发展,越来越多的制件表面形貌朝纳米尺度和精度发展,如光学表面、光刻表面、信息存储表面等等。保证和提升这些表面质量,需要纳米分辨率的表面形貌和结构测量仪器。白光干涉原子力显微镜(White Light Interference based Atomic Force Microscope,以下简称WLIAFM)充分利用了原子力显微镜的高横向分辨率和垂直方向灵敏性,及光学干涉高的位移测量精度,将白光干涉和原子力探针结合,构成一种纳米分辨率表面形貌和结构测量仪器,具有重要意义。本文围绕WL