随着集成电路技术的发展,当前的芯片会出现在工艺、电压、温度以及老化等方面的偏差(Variation),在低电压尤其是超低电压下偏差将变得更加显著。这种偏差会使得当前集成电路的时序发生偏差,时序偏差达到一定程度会使得集成电路的时序信息不满足要求进而发生时序错误(Timing Error),时序错误应当被检测到并且被纠正掉以防止集成电路出现功能上的错误。当前时序错误的检测与纠正技术(EDAC:Error Detection and Correction)正越来越受到人们的关注,得到越来越多的研究。本文针对当下最新的EDAC技术在超低电压下工作时出现的问题,对EDAC技术中检测电路和纠正电路进行改进优化设计,使得EDAC技术能够在超低电压下正常工作。随后,设计一款FIR滤波器作为面向超低电压的EDAC电路的验证电路,使得所设计的面向超低电压的EDAC电路能够在实际电路中得到应用。仿真结果显示,本文设计的面向超低电压的EDAC电路能够在工作电压为0.3V~0.6V范围当检测窗内发生时序错误时完成时序错误的检测与纠正。本文设计的面向超低电压的EDAC电路中纠正电路结构简单,硬件开销低,动态功耗比原系统大约降低13.2%。蒙特卡罗仿真结果显示,迭代次数设置为1000次,工作电压为0.3V~0.6V时,EDAC技术在FIR滤波器上能够完成检错与纠错,从而证明本文对超低电压下EDAC电路的设计是合理可靠的。