轻赝标介子（π0，η，η）电磁达利兹衰变的研究对于研究强子结构和强子与光子相互作用机制有很重要的作用。通过介子的电磁达利兹衰变，可以测得它的形状因子，进而可以计算出形状因子斜率参数的大小。　　之前实验组关于π0形状因子斜率的测量由于事例数相对较少，使得测量误差较大。基于BESⅢ上采集的约13亿的J/Ψ数据样本，我们对J/Ψ→π+π-π0，π0→γe+e-衰变道进行分析。通过轻子对不变质量谱分布的研究，得到π0形状因子中斜率参数:bπ0=0.025±0.032。与其它实验组相比，我们采用了更大的样本，得到的测量值的精度提高了很多。　　利用BESⅢ采集的约2.25亿的J/Ψ数据样本，电磁达利兹衰变J/Ψ→ηe+e-过程首次被研究，给出其分支比为:B(J/Ψ→ηe+e-)=(1.16±0.09)×10-5。利用BESⅢ采集的约13亿的JΨ数据样本，我们对J/Ψ→ηe+e-过程进行更精确地分析，得到的分支比为:B(J/Ψ→ηe+e-)=1.44±0.06)×10-5，并对U玻色子进行研究。