数字电路测试是集成电路设计与生产过程中的一个重要环节。数字电路测试的研究工作对于保证集成电路产品的质量具有重要的实际应用价值。 传统的基于电压测试的测试方法已得到了广泛的应用。但这些方法仍然无法有效的检测某些故障。作为这些方法的一个补充，电流测试方法能够提高故障的覆盖率，提高产品的可靠性。动态电流提供了一个观测电路内部开关性能的新的窗口，动态电流测试方法为进一步提高故障覆盖率提供了可能。 本文通过SPICE实验研究数字电路动态电流的特性，分析了数字电路的动态电流与电路逻辑状态转变之间的关系。根据实验结果，本文提出一种根据CMOS电路中加权逻辑跳变数来估计整个电路平均动态电流大小的方法。该方法在电路逻辑跳变与电路动态电流之间建立了一种简单直观的关系，使得动态电流测试产生能够在逻辑级上得以实现。 在此基础上，本文对一种基于布尔过程的动态电流测试方法进行改进，用波形模拟器程序实现了该方法。并且针对一个实际电路中的部分故障用该方法产生了测试向量对。对于这些测试向量对，通过SPICE软件模拟了故障电路和无故障电路在测试向量对作用下的动态电流。模拟结果表明，故障电路和无故障电路的动态电流产生了一定的差别，通过比较两者的平均动态电流，这些测试向量对能有效的检测某些故障。实验结果验证了本文中动态电流测试产生方法的可行性和有效性。