近些年电子行业飞速发展,智能终端设备已成为生活中必不可少的一部分。为适应市场需求,集成电路制造工艺技术不断提高,芯片上集成的晶体管数量迅速增加造成集成电路的测试工作变得越来越复杂。芯片复杂度的不断提高会导致出现故障的可能性增加,从而使故障数目越来越多,针对故障检测的测试数据也随之增加。增大的测试数据规模不仅需要更多的存储空间,而且还会带来测试应用时间和测试功耗的增加。因此,如何有效降低存储的测试数据量成为集成电路测试领域研究的热点。为减少测试数据存储代价,缩短测试应用时间,可以对测试数据进行压缩。测试数据压缩旨在减少测试数据需要存储的二进制位数量。数据经过压缩后存储在测试仪上,芯片上的解压电路则负责将测试仪传来的数据解压后施加到被测电路中。本文对测试激励压缩方法进行研究,主要有以下两方面的工作:(1)通过使用残分量共享方法来研究无关位对变换拆分压缩方法压缩率的影响。共享方法利用原始测试集位流间存在的潜在相容性,在原测试集拆分成主分量集和残分量集时,使一个残分量被多个位流共同使用,从而减少残分量集规模。对单游程编码而言,减小测试集规模能减少编码码字长度,利于压缩。实验结果表明,使用共享方法后测试集中位流的残分量平均共享度为1.74,但平均压缩率仅为72.54%,较测试集使用“残分量中l最少”原则的变换分解减少2.87%,较使用相容预处理变换拆分方法压缩率减少 4.4%。(2)通过有选择地使用差分向量来研究无关位对变换拆分压缩方法压缩率的影响。该方法通过对测试向量有选择地进行差分处理,减少测试集中游程数。具体做法是对测试集中的无关位按照“跟随”策略填充,填充后对向量中的每个数据位进行差分处理得到差分向量,比较原测试向量和差分向量的游程数,保留游程数较少的向量,这些向量组成一个组合测试集,对组合测试集进行编码压缩。实验表明,对原测试集使用该方法后平均压缩率为59.78%,较测试集直接编码压缩的压缩率略有提高。综合研究结果表明,利用无关位优先考虑减少测试集规模对提高变换拆分压缩方法的压缩率没有正面作用。反之,优先考虑减少游程数比较好。