频率合成器是现代电子系统的重要组成部分，是决定电子系统性能的关键设备之一。随着现代通信技术的发展，系统对频率合成器提出了越来越高的要求，低相位噪声、高频谱纯度、高捷变速率和高频率分辨率的频率合成器已经成为频率合成技术发展的主要趋势。锁相环(PLL)频率合成和直接数字频率合成(DDS)是目前产生频率源的两种主要技术。PLL技术已经相当成熟。相对PLL而言，DDS产生的时间比较晚。DDS具有输出波形灵活且相位连续、频率稳定度高、输出频率分辨率高、频率转换速度快、输出相位噪声低、以及集成度高和可靠性好等优点。它是继直接频率合成(DS)和锁相环频率合成(PLL)之后出现的新的频率合成方法，己被广泛地应用于通信、雷达、电子对抗和仪器仪表等领域。 电子测量中经常需要对网络的阻抗和传输特性进行测量。幅频特性是重要的传输特性之一。用一个随着时间按一定规律并在一定频率范围内扫动的信号代替以往的固定频率信号，就可以对被测网络进行快速、定性或定量的动态测量，给出被测网络传输特性的实时测量结果。具有一个标准的扫频信号是准确进行幅频特性测试的关键。所以，扫频的正弦信号采用DDS频率合成的方式产，实现基于DDS的低频幅频特性测试功能。 本文首先介绍了直接数字频率合成器(DDS)的发展概况，详细阐述了DDS的基本结构和工作原理，分析了频率合成的噪声来源(DDS的相位截断、幅度量化、DAC转换误差)，讨论了DDS杂散以及杂散对DDS输出频谱的影响。重点阐述了一个基于DDS的幅频特性测试系统的设计和实现过程、系统实际测试结果与性能分析。该系统以AT89S52单片机作为控制核心由基于DDS的扫频信号源、椭圆滤波器、程控滤波器和幅频特性测试电路四大部分组成，实现了利用DDS输出扫频信号、程控可变时钟改变滤波器截止频率、滤波器带宽可调、幅频特性的测试和显示等功能。