论文主要研究了计数型和成像型两种GEM探测器的性能,并对密闭式GEM探测器的制作方法进行了讨论和研究。使用直流电源对计数型GEM探测器进行了刻度,发现了探测器坏道;讨论了探测器在低端和高端出现非线性失真现象的原因和解决方案;测量了K荧光X射线辐射装置的光子注量率,发现探测器测得的光子数量随光子数的增加而线性增加。成像型GEM探测器主要测试了其坪曲线、位置分辨和能量分辨,得到其最佳工作电压为1630V,位置分辨为677μm,能量分辨为30.19%;使用该探测器对HXCF装置和K荧光X射线辐射装置的光斑尺寸进行了测量,测得HXCF装置光斑尺寸平均值为9.03±0.68mm,K荧光X射线辐射装置在距辐射体中心30cm处的辐射野直径平均值为11.23±0.31cm,并使用CCD探测器和矩阵探测器分别进行了验证。最后,讨论了密闭式GEM探测器研究的必要性和可行性,通过腔室处理和更换内部组件的方法,减少了对工作气体的污染。使用设计的密闭式GEM探测器对宇宙射线进行观测,其结果与流气式GEM探测器结果基本一致。