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静电放电(Electrostatic Discharge, ESD)是常见电磁骚扰(Electromagnetic Disturbance)的一种,会给电子器件或设备带来严重的干扰,甚至造成设备或器件损坏,所以对电子产品进行静电抗扰测试十分必要。传统的基于IEC61000-4-2标准生产制作的静电放电发生器由于存在诸可重复性较低、不一样的厂家按照该标准生产的发生器会得到不同结果等问题,在进行抗扰测试时具有明显不足,因此传输线脉冲发生器(Transmission Line Pulse, TLP)得以在静电抗扰测试中得到应用发展,用以模拟静电放电对被测设备(Device Under Test, DUT)的干扰。所以研究传输线脉冲发生器以及TLP与DUT的耦合关系,具有十分重要的意义。本文根据传输线原理,分析了传输线脉冲的产生过程,并对其影响因素进行了研究,搭建了实际的TLP发生器,并对传输线脉冲测试搭载的激励探头模型进行测试,这些激励探头可以模拟静电放电不同耦合形式。本文分为三个部分,首先对传输线脉冲发生器的原理进行了分析阐述,根据传输线原理以及波的反射折射,分析了传输线脉冲方波的产生过程,并根据传输线脉冲发生器的原理结构分析了可能影响方波脉宽、上升时间等方面的影响因素,针对各个因素利用Simulink软件搭建了仿真模型进行仿真,得到每种因素对于波形影响的仿真结果；其次,传输线搭建了实际的TLP发生器,得到波形较为理想的传输线脉冲方波。并且对TLP发生器的各个部分采用了不同元件进行对比测试,以达到产生较为理想的波形效果。结果可以很好的将产生的TLP方波的上升沿控制在800ps,过冲现象得到抑制；最后,简要介绍了TLP测试时常用的激励探头以及各类探头的作用机理,阐述了S参数的意义,以及二端口网络的S参数与Y参数和Z参数的转换关系,并给出了一种二端口网络Y参数的等效模型。使用矢量网络分析仪对实验室自制TLP测试用的电场探头、水平磁场探头、垂直磁场探头以及注入探头与简单电子线路的耦合进行S参数测量,并根据S参数与Y参数和Z参数的转换关系得到了上述各类激励探头二端口网络的Y参数Π型等效电路以及Z参数T型等效电路,根据Y参数该种等效模型,分析了各类探头与简单电子线路的耦合关系。