控制图被广泛地应用于监测生产制造出的产品的质量。如今控制图的应用范围，已经不仅仅是制造业，它还被广泛地应用于工程，环境科学，生物技术，医药行业以及自然科学中。控制图主要可分为两类，一类是用于监测过程均值漂移的控制图，另一类是用于监测过程方差漂移的控制图。从抽样频率的另一个角度来看，最近二十年来，可变抽样频率(VSR)的控制图最初被Reynolds引入来增强固定抽样频率(FSR)的控制图的监测能力。至今为止监测过程均值漂移的VSR控制图已经有了大量的研究，但是监测过程方差漂移的VSR控制图还尚未得到充分研究。在这篇论文里，一种新的VSR控制图(被称为SEIFT控制图)，将在固定时间点序贯抽样的EWMA控制图，和基于正态逆变换(INT)的统计量结合起来，被用来同时监测过程方差的向上和向下的漂移。而且，它允许在每个抽样点的样本容量变化。我们用马尔科夫链的方法来评估这种控制图的检测能力。从得到的数值结果的分析可以看出，SEIFT控制图相对于FSR控制图的监测能力有了很大的改善。相对于其它的控制图，INT统计量的良好性质使得SEIFT控制图的设计更加简便，操作更加方便。另外，从现实操作的角度讲，在固定时间点抽样的控制图也更容易操作，参数的选择和设计过程在论文中也被加以论述了。